Мощный инструмент для исследований свойств наноматериалов, как объемных, так двух- и одномерными методами малоуглового, широкоугольного рентгеновского рассеяния, а также методом GI-SAXS.
Незаменимый инструмент как для проведения научных исследований высокого уровня, так и для решения задач центров коллективного пользования.
Линейка D8 ADVANCE представляет собой ряд аппаратных и программных решений для рентгеновской дифракции и рассеяния, включая фазовую идентификацию, количественный фазовый анализ, анализ микроструктуры и кристаллической структуры, исследования остаточных напряжений и текстуры, рентгеновскую рефлектометрию, SAXS и PDF-анализ, а также микродифракцию.